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半導体ができるまで

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Gate dielectric film formation / Gate electrode formation

ゲート絶縁膜形成/ゲート電極層形成

RESTART

熱酸化法でゲート絶縁膜(酸化膜)を形成し、さらに窒化処理をゲート絶縁膜表面に施す。つづいてCVD法でゲート電極層(多結晶シリコン膜)を形成する。

半導体製造関係装置

絶縁膜成膜装置、メタル膜形成装置 (CVD、PVD)
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Patterning

パターン形成

RESTART

ゲート電極層上にパターン形成プロセスを施し、ソース・ドレイン領域をつくる。

半導体製造関係装置

レジスト塗布現像装置、露光装置(スキャナ)
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Ion implantation / Annealing

イオン注入/アニール

RESTART

ソース・ドレイン領域にイオン注入法で導入した元素(ホウ素や砒素等)を打ち込む。酸化膜が残っている部分にはイオンが注入されない。その後、高温アニールによって不純物を均一に拡散させる。

半導体製造関係装置

イオン注入装置、アニール装置
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Intermetal dielectric film formation / Planarization

層間絶縁膜形成/平坦化処理

RESTART

酸化膜をCVD法で堆積させ、層間膜を形成し、表面を研磨して平坦にする。

半導体製造関係装置

減圧(LP)CVD装置、CMP装置
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